相控陣探傷技術(shù)是通過控制激發(fā)延遲時間，利用波束控制和每個元件所接收的信號波形進(jìn)行計算處理的技術(shù)。2010年以后，F(xiàn)PGA（Field
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感應(yīng)線圈激發(fā)檢查法是對檢查對象物進(jìn)行檢查時，利用感應(yīng)線圈對導(dǎo)體金屬進(jìn)行非接觸加熱 后，紅外熱像儀將金屬溫度下降過程中，完
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自20世紀(jì)以來，紅外熱像技術(shù)得到快速發(fā)展。 20世紀(jì)90年代，美國無損檢測協(xié)會和材料試驗協(xié)會 針對紅外熱成像技術(shù)指定了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)
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無損檢測超探儀是一種便攜式工業(yè)無損探傷儀器，它能夠快速便捷、無損傷、精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷（焊縫、裂紋、夾雜、折疊、
